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金屬材料檢測(cè)-硬度試驗(yàn)
硬度試驗(yàn)是檢測(cè)金屬材料軟硬程度的一種指標(biāo),硬度試驗(yàn)是材料試驗(yàn)中最簡(jiǎn)便的一種,試驗(yàn)方法簡(jiǎn)單、迅速。由于硬度與其他機(jī)械性能有一定關(guān)系,也可根據(jù)硬度估計(jì)出零件和材料的其他機(jī)械性能。常用的壓入法硬度試驗(yàn)有布氏硬度、洛氏硬度和維氏硬度三種。更多 +
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緊固件檢測(cè)-楔負(fù)載試驗(yàn)
楔負(fù)載試驗(yàn)是在螺栓或螺釘頭下放置楔墊,施加軸向拉力直至拉斷,主要測(cè)定頭與桿部或螺紋部分交接處的牢固性,不允許斷裂在頭部,楔墊角度有10°,6°和4°。更多 +
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金相分析-顯微組織評(píng)級(jí)
顯微組織是指將用適當(dāng)方法(如侵蝕)處理后的金屬試樣的磨面置于光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡下觀察到的組織。更多 +
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緊固件檢測(cè)-扭矩試驗(yàn)
扭矩試驗(yàn)是指固定試樣,用扭矩扳手轉(zhuǎn)動(dòng)試樣,測(cè)試其所能承受的最大扭矩值。更多 +
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失效分析-能譜測(cè)試
能譜儀(EDS)是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類(lèi)與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。各種元素具有自己的X射線(xiàn)特征波長(zhǎng),特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E,能譜儀就是利用不同元素X射線(xiàn)光子特征能量不同這一 特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。更多 +
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涂層檢測(cè)-耐水試驗(yàn)
試樣在去離子水中測(cè)試240h小時(shí)后,經(jīng)膠帶試驗(yàn),檢測(cè)漆膜的結(jié)合強(qiáng)度。更多 +
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金屬材料檢測(cè)-慢應(yīng)變速率拉伸
試樣在模擬環(huán)境中以1×10-5-10-7 s-1的應(yīng)變速率進(jìn)行拉伸,測(cè)試材料的抗拉強(qiáng)度、斷面收縮率、延伸率。更多 +
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金屬檢測(cè)-均勻腐蝕試驗(yàn)
試樣在模擬環(huán)境中浸泡一段時(shí)間,測(cè)試材料的腐蝕增重率。更多 +
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金相分析-晶粒度檢測(cè)
晶粒大小的量度,通常使用長(zhǎng)度、面積、體積或晶粒度級(jí)別數(shù)來(lái)表示不同方法評(píng)定或測(cè)定的晶粒大小,而使用晶粒度級(jí)別數(shù)表示的晶粒度與測(cè)量方法和使用單位無(wú)關(guān)。更多 +
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金相分析-晶間腐蝕試驗(yàn)
晶間腐蝕是局部腐蝕的一種。沿著金屬晶粒間的分界面向內(nèi)部擴(kuò)展的腐蝕。主要由于晶粒表面和內(nèi)部間化學(xué)成分的差異以及晶界雜質(zhì)或內(nèi)應(yīng)力的存在。晶間腐蝕破壞晶粒間的結(jié)合,大大降低金屬的機(jī)械強(qiáng)度。而且腐蝕發(fā)生后金屬和合金的表面仍保持一定的金屬光澤,看不出被破壞的跡象,但晶粒間結(jié)合力顯著減弱,力學(xué)性能惡化, 不能經(jīng)受敲擊,所以是一種很危險(xiǎn)的腐蝕。通常出現(xiàn)于黃銅、硬鋁合金和一些不銹鋼、鎳基合金中。更多 +
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金屬材料檢測(cè)-拉伸試驗(yàn)
金屬拉伸試驗(yàn)是指在承受軸向拉伸載荷下測(cè)定金屬材料及制品特性的試驗(yàn)方法??稍谑覝?、高溫、低溫環(huán)境下進(jìn)行。更多 +
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鍍層厚度檢測(cè)-金相法
金相法測(cè)量鍍層厚度是利用光學(xué)顯微鏡檢測(cè)橫斷面,以金屬覆蓋層、氧化膜層和其他覆蓋層局部厚度的方法。更多 +
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沸騰氯化鎂應(yīng)力腐蝕試驗(yàn)
材料在沸騰氯化鎂溶液中的應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂。更多 +
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金相分析-非金屬夾雜物評(píng)級(jí)
鋼中非金屬夾雜物是指鋼中不具有金屬性質(zhì)的氧化物、硫化物、硅酸鹽和氮化物等。它們常作為衡量鋼質(zhì)量的重要指標(biāo),其類(lèi)型、組成、形態(tài)、含量、尺寸、分布等各種狀態(tài)因素都對(duì)鋼性能產(chǎn)生影響。更多 +
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金屬材料檢測(cè)-低周疲勞試驗(yàn)
材料在模擬環(huán)境中的低周疲勞試驗(yàn)。更多 +
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金相分析-低倍組織評(píng)級(jí)
低倍組織就是在低倍狀態(tài)下觀察到的宏觀組織形貌。一般包括中心疏松、一般疏松、錠型偏析等,以及各種能在低倍下暴露的宏觀缺陷。更多 +
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鍍層厚度檢測(cè)-磁性法
磁性法測(cè)量鍍層厚度的原理為采用磁性測(cè)厚儀測(cè)量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力,該磁引力受到覆蓋層存在的影響;或者測(cè)量穿過(guò)覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。更多 +