- [檢測百科]分享：AgCuV合金導電滑環(huán)內部缺陷產生原因分析2023年05月24日 09:20
- AgCuV 合金導電滑環(huán)在進行超聲檢測時發(fā)現有內部缺陷的存在.采用化學成分分析、 超聲檢測、金相檢驗、掃描電鏡及能譜分析等方法對 缺 陷 產 生 的 原 因 進 行 了 分 析.結 果 表 明: AgCuV 合金導電滑環(huán)經超聲檢測發(fā)現的內部缺陷是裂紋,脆性的含釩第二相與 AgCu合金基體的 結合力弱并且易碎,在應力集中處產生了微裂紋,微裂紋沿著第二相與基體結合力弱的部位擴展, 最終導致 AgCuV 合金導電滑環(huán)內部缺陷的產生.
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